专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]更新指纹库的方法及装置-CN201610109053.6有效
  • 曲文启;李瑞;王书明;陈淼 - 高德软件有限公司
  • 2016-02-26 - 2019-12-03 - H04W4/021
  • 本申请提供了一种更新指纹库的方法及装置,所述方法包括:获取移动设备在各个步点的扫描信息,所述扫描信息包括:步点扫描时间、方向及在步点扫描到的定位信息;根据各步点的扫描时间及方向将所述步点连接成所述移动设备的移动轨迹;对所述移动轨迹进行分割及过滤,得到扫描轨迹;从预置的指纹库中获取与所述扫描轨迹上的步点匹配的指纹点,根据获取的指纹点生成与所述扫描轨迹匹配的匹配轨迹;利用所述扫描轨迹上的步点对应的定位信息更新与该扫描轨迹匹配的所述匹配轨迹上相应指纹点的定位信息
  • 更新指纹方法装置
  • [发明专利]一种点胶机的点胶检测方法、装置、点胶机和介质-CN202211626574.0在审
  • 请求不公布姓名 - 苏州希盟科技股份有限公司
  • 2022-12-16 - 2023-03-14 - B05C5/02
  • 本发明公开了一种点胶机的点胶检测方法、装置、点胶机和介质,点胶机包括处理模块、喷涂模块和扫描模块;处理模块分别与喷涂模块和扫描模块电连接;点胶检测方法包括:控制扫描模块沿第一轨迹对点胶前的产品进行第一次扫描,获取第一扫描数据;控制喷涂模块沿第二轨迹对产品进行点胶,同时控制扫描模块沿第二轨迹对点胶后的产品进行第二次扫描,获取第二扫描数据;其中,第一轨迹与第二轨迹为相反轨迹;根据第一扫描数据和第二扫描数据确定产品的点胶信息采用本发明提供的检测方法,产品中以相反轨迹的第一轨迹和第二轨迹上进行点胶前扫描和点胶后扫描,保证点胶信息获取的准确性,并且在产品进行点胶的同时进行第二次扫描可以提升检测的效率。
  • 一种点胶机检测方法装置介质
  • [发明专利]基于投影的扫描轨迹拟合方法、装置、设备及存储介质-CN202210961244.0在审
  • 陈明明;田希文;高磊 - 熵智科技(深圳)有限公司
  • 2022-08-11 - 2022-11-18 - G06T3/00
  • 本发明涉及激光清洗技术领域,公开了一种基于投影的扫描轨迹拟合方法、装置、设备及存储介质。该方法通过获取并根据待扫描工件的工件网格,计算最小有向包围盒,根据最小有向包围盒生成初始扫描轨迹,效率高,计算量小;将工件网格投影到最小包围盒的上表面,获得投影网格,将初始扫描轨迹离散成点集,根据投影网格,查找初始扫描轨迹的离散点集中每个点距离最近的目标投影网格面,记录目标投影网格面的目标序号,将点集中的离散点投影至工件网格中目标序号对应的目标网格,获得扫描轨迹投影点集合,根据扫描轨迹投影点集合拟合待扫描工件的实际扫描轨迹,实际扫描轨迹使激光完全覆盖被扫描物体表面,且能量均匀作用于扫描区域,提高清洗效果。
  • 基于投影扫描轨迹拟合方法装置设备存储介质
  • [发明专利]多孔自由曲面连续式扫描测量轨迹规划方法及系统-CN201910917523.5有效
  • 胡鹏程;刘青松;韩振炜;陈吉红 - 华中科技大学
  • 2019-09-26 - 2020-08-04 - G05B19/401
  • 本发明公开了一种多孔自由曲面连续式扫描测量轨迹规划方法及系统,属于五轴测量领域,该方法包括:生成多孔自由曲面中的骨架线,将所得的各条骨架线作为测量轨迹规划过程中的导向曲线,生成与各条导向曲线对应的测头中心点的运动轨迹曲线;由测头中心点的各运动轨迹曲线生成每个区域对应的测针尖端的名义扫描轨迹曲线,由每个区域对应的测针尖端的名义扫描轨迹曲线生成每个区域对应的测针尖端的实际扫描轨迹曲线;根据各区域内测针尖端的实际扫描轨迹曲线,采用预设测量顺序将所有区域的测针尖端的的实际扫描轨迹曲线串联起来,得到整个多孔曲面的连续式扫描测量轨迹,可以实现高效的测量轨迹
  • 多孔自由曲面连续扫描测量轨迹规划方法系统
  • [发明专利]X射线原位成像方法及系统-CN201610824694.X有效
  • 奚岩;娄昕;陈绵毅 - 奚岩
  • 2016-09-14 - 2020-03-17 - G01N23/046
  • 一种X射线原位成像方法及系统,通过自动生成扫描轨迹或对用户指定的扫描轨迹进行优化后分别得到射线源和探测器的期望运动轨迹,设置X射线源按照期望运动轨迹执行扫描,同时由图像采集装置实时收集来自探测器的投影数据,最后通过重建算法进行系统成像几何的精确校准和图像重建得到扫描结果;本发明通过将射线源和探测器分别固定在分离的机器手臂上,扫描轨迹不限制为圆形或者螺旋形,可以是任意轨迹;本发明仅需要将成像设备移动至被扫描位置即可,设备根据预设扫描轨迹自动进行原位扫描,即将成像系统放置被扫描物体旁边,依照当前环境优化扫描方案。
  • 射线原位成像方法系统
  • [发明专利]一种无像差的激光扫描方法及系统-CN202111305532.2有效
  • 曾绍群;李华明;王雨;吕晓华 - 华中科技大学
  • 2021-11-05 - 2022-09-20 - G02B26/10
  • 本发明公开了一种无像差的激光扫描方法及系统,属于光学领域。包括:预处理阶段,将扫描轨迹切片为N个同心的圆轨迹,N为正整数;每个圆轨迹上都任取一点作为扫描起始点;获得每个扫描起始点对应的像差校正数据;扫描阶段,步骤S1,产生激光束;步骤S2,选定一个未扫描的圆轨迹作为待扫描轨迹,控制激光束的偏转角,使其聚焦在待扫描轨迹扫描起始点上,并设置与该扫描起始点对应的像差校正数据,使该激光束从该扫描起始点开始沿着该圆轨迹旋转一周,在扫描过程中,光束自转角速度与环形扫描角速度一致;步骤S3,重复步骤S3,直到N个圆轨迹扫描完成。本发明在缩短像差校正时间的基础上,实现了高速大范围无像差扫描
  • 一种无像差激光扫描方法系统
  • [发明专利]一种空间扫描定位缝隙的方法及装置和应用-CN202210046703.2有效
  • 刘泸;姜加伟;石文涛 - 快克智能装备股份有限公司
  • 2022-01-17 - 2022-04-19 - G01B11/00
  • 本发明涉及一种空间扫描定位缝隙的方法及装置和应用,包括:S1、把产品放置在待矫正区,矫正每次扫描的起始位置以及产品相对扫描设备的相对位置;S2、计算得出总的扫描点数及相应扫描位置的多维坐标,得到整体扫描轨迹;S3、带动产品沿整体扫描轨迹运行,通过扫描设备得到产品的实际轮廓;S4、根据产品实际轮廓,提取缝隙轨迹;S5、根据作业部件相对扫描设备的相对位置以及缝隙轨迹情况,将部分或全部的缝隙轨迹点位进行相对距离的换算即转换为作业部件的作业轨迹本发明焊接作业轨迹只需通过缝隙轨迹进行微调,即可引导焊接部件进行焊接或点胶,确保焊接或点胶精度,并提升作业效率。
  • 一种空间扫描定位缝隙方法装置应用

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